FEI Nova Nano SEM 场发射扫描电子显微镜

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　　　　工作电流背光：25mAMax　　待机:25mAMax(背光关闭)　　测量：200mAMax(背光关闭)　　质量仪表：1325g(含电池)　　测试线：847g(含简易测试线)　　辅助接地棒：468g(2根)　　仪表袋：915g　　工作温湿度-10℃～40℃；80%rh以下　　存放温湿度-20℃～60℃；70%rh以下　　过载保护测量接地电阻：E-P、E-C各端口间AC280V/3秒　　绝缘电阻10MΩ以上(电路与外壳之间500V)　　耐压AC3700V/rms(电路与外壳之间)　　电磁特性IEC61010-4-3，无线频率电磁场≤1V/m　　适合安规IEC61010-1、IEC1010-2-31、IEC61557-1,5、IEC60529(IP54)、污染等级2、CATⅢ300V　　装箱单　　名称数量　　主机1台　　测试线（红、黄、绿）1套　　数据连接线1根　　光盘1个　　电池6节　　简易测试线1套　　接地钳2个　　线包1个如果大多数人不看好这只股票，而交易市场价格低于除权，基准除息价也就是股票价格在抽签前已经下跌到一定程度，那么就叫贴权。

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FEI Nova Nano SEM 场发射扫描电子显微镜该产品是世界上*款可以对有机材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有电荷积累的样品和/或污染性样品进行超高分辨表征的低真空场发射扫描电子显微镜（FEG-SEM）。作为FEI公司市场的众多设备中的一员，Nova NanoSEM为用户在纳米研究、开发与生产的相关工作提供了更多的可能。